MEDAILLE Pierre Chevenard

La médaille Pierre Chevenard est attribuée par la SF2M, en principe tous les deux ans, à une personnalité ayant apporté une contribution éminente dans les domaines dans lesquels s’est distingué Pierre Chevenard, l’instrumentation scientifique ainsi que les méthodes de caractérisation des matériaux.

Lauréat 2018

Éric OLLIVIER

Après des études supérieures à l’INSA de Rennes (Institut National des Sciences Appliquées de Rennes), en physique des matériaux et un DEA (Diplôme d’études approfondies en Science des matériaux) à l’Université de Rennes I au début des années 80, Éric Ollivier a débuté sa carrière en région parisienne au sein de deux Sociétés françaises d’instrumentation scientifique : la Société RIBER puis la Société CAMECA. Il y a occupé un poste d’ingénieur d’application puis d’ingénieur développement des techniques d’analyse de surface des matériaux commercialisées par ces Sociétés, à savoir les Spectrométries Auger et XPS (Spectrométrie de Photoélectrons) et surtout la technique SIMS (Spectrométrie de Masse des Ions Secondaires).

Appelé à développer les applications de ces techniques pour les matériaux aéronautiques au sein du département matériaux d’Aérospatiale, au Centre Commun de Recherche Louis Blériot à Suresnes au début des années 90, il a finalement rejoint sous la responsabilité de Daniel Aliaga, Executive Expert au sein d’AIRBUS, le département Support Technique et Expertise des matériaux de ce Centre. Il a été responsable et a animé pendant une quinzaine d’années l’équipe expertise des matériaux au sein de ce département dédié aux expertises matériaux urgentes à la requête des Divisions de la Société AIRBUS (Avions commerciaux, avions militaires, hélicoptères, lanceurs, …).

Dans ce cadre, il a développé des méthodes spécifiques et originales de résolution adaptées aux problèmes posés et liées entre autres au domaine des techniques d’analyse de surface et d’interfaces (par ex : joints de grains) des matériaux (XPS, Auger, SIMS), de la topographie optique 3D sans contact, de la microscopie électronique à balayage.

Beaucoup d’applications ont concerné l’analyse des faciès de rupture de pièces métalliques et en particulier l’analyse des faciès de fatigue sous chargements complexes résultant d’essais ou du service.

Dans le domaine des analyses de surface (XPS en particulier), les développements et publications ont été réalisés dans le cadre d’une longue et régulière collaboration avec Jean-Paul Langeron, directeur de recherches au CNRS (CECM Vitry).

Dans le cadre de sa responsabilité de l’équipe expertise, il a plusieurs fois supervisé des travaux d’expertises techniques suite à incidents en service à la demande et dans le cadre d’enquêtes coordonnées par le BEA (Bureau d’Enquête et Analyse- Ministère des Transports).

L’expertise d’Éric Ollivier dans le domaine des techniques d’Analyse de Surface l’a aussi amené à être participant ou conférencier invité à plusieurs Workshops internationaux dédiés aux Spectrométrie d’électrons (Auger, XPS) organisés par l’UISTAV (Union Internationale pour la Science, la Technique et les Applications du Vide).

tous les lauréats depuis 1965

2018Éric OLLIVIERFrance
2016Dominique JEULINFrance
2014Edgar RAUCHFrance
2012John C. VICKERMANFrance
2010Philippe PAREIGEFrance
2008Jean SUSINIFrance
2005Philippe SAINCTAVITFrance
2003Christian CHATILLONFrance
2002Jean-Paul MORNIROLIFrance
1999Jean PANNETIERFrance
1997André SIMONFrance
1996Ricardo COZARFrance
1995Christian JANOTFrance
1994Bernard JOUFFREYFrance
1993Didier BLAVETTEFrance
1992Louis ROESCHFrance
1991Jacques de FOUQUETFrance
1990François DUFFATFrance
1987Jean PAPIER²France
1984René EL HAIKFrance
1981Robert BRUNETAUDFrance
1978Joseph HOCHMANNFrance
1975André GUEUSSIERFrance
1973Emile POUILLARDFrance
1971Maurice COHENUSA
1969Louis COLOMBIERFrance
1967Xavier WACHEFrance
1965Georges CHAUDRONFrance