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Descriptif technique :

Micrographie MEB (détecteur d’électrons secondaires) d’un alliage self-fluxing base nickel NiCrBSi au grossissement X2000 obtenue avec un microscope Zeiss EVO 15 HD dont la tension d’accélération est réglée sur 15 keV.

Technique de réalisation/Apport scientifique :

La séquence de transformation de ces alliages complexes est encore très mal comprise. Après une attaque chimique poussée au réactif Marble, cette micrographie révèle une multitude d’eutectiques de nickel, bore et silicium ainsi que des borures et des carbures de chrome créés lors de la solidification à l’équilibre.

Provenance : Laboratoire Génie de Production (Ecole Nationale d’Ingénieurs de Tarbes