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Descriptif technique :

Micrographie MEB (détecteur d’électrons secondaires) d’un alliage self-fluxing base nickel NiCrBSi au grossissement X10000 obtenue avec un microscope Zeiss EVO 15 HD dont la tension d’accélération est réglée sur 15 keV.

Technique de réalisation/Apport scientifique :

La fabrication additive sur lit de poudre des alliages self-fluxing base nickel est très peu documentée. Cette méthode d’élaboration peut générer des projections subissant un refroidissement plus lent que la pièce. Cette micrographie permet l’observation de la diversité des composés eutectiques, des carbures et des borures d’une projection émanant du bain de fusion.

Provenance : Laboratoire Génie de Production (Ecole Nationale d’Ingénieurs de Tarbes