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Descriptif technique :

Micrographie fractologie réalisée dans un fond d’entaille d’un point soudé cassé FS1470 GI (Zn) .
Image électrons secondaires obtenue au grandissement X10000 sous faisceau d’électrons 15kV à une distance de travail de 8,5 mm, sur le MEB Jeol IT300.

Technique de réalisation/Apport scientifique :

Trouver les bons paramètres process de soudabilité de cette nuance FS1470 GI.

Provenance : ArcelorMittal R&D Maizières