Objectifs de la formation

• comprendre l’origine et les conséquences des contraintes résiduelles ;
• définir et choisir les paramètres et conditions de mesure (configuration de l’appareil et des acquisitions) ;
• utiliser les appareils de mesure de manière optimale
  • diffractomètre des rayons X Bruker D8 Discover, avec détecteurs 0, 1 et 2 D ;
  • diffractomètre des rayons X GE-Seifert, avec détecteurs 0 et 1 D ;
• traiter les données de différentes manières et de façon appropriée ;
• intégrer les limites de la méthode, les aspects métrologiques et les erreurs de mesures dans la démarche d’analyse et de l’évaluation des résultats.