La réflectivité des rayons X ou des neutrons est une technique de caractérisation des surfaces, des couches minces, voire de dépôts multicouches, qui permet d’obtenir des informations sur les épaisseurs, les rugosités et les densités à proximité de la surface étudiée. L’école thématique proposée ici a pour objectif de former les participants aux principes théoriques de la réflectivité, à son utilisation, aux traitements des données ainsi qu’à leur exploitation au travers de cours et de travaux pratiques. Plusieurs cas d’études seront présentés afin de montrer aux participants toutes les potentialités de cette méthode d’analyse de surface.

Cette école s’adresse aux jeunes chercheurs, ingénieurs et doctorants travaillant dans le domaine des surfaces et des couches minces. Le nombre de participants est limité à 25 personnes. Nous encourageons les participants à apporter un échantillon qui pourra être analysé pendant l’école.