L’école porte sur la détermination des structures et des microstructures à l’échelle nanométrique par diffraction électronique dans un microscope électronique en transmission (MET). Elle concerne en particulier les développements récents associés à l’utilisation de nouvelles techniques d’acquisition et/ou d’analyse des données telle que la précession, la tomographie et la cartographie d’orientation. Les méthodes d’analyse de symétrie en faisceau convergent seront également présentées.

Public :

Francophone, doctorants, chercheurs, IE et IR.

Des connaissances de base en microscopie électronique et/ou en analyse structurale par diffraction des rayons X sont requises.

Nombre de participants :

12 personnes.

Organisation pratique :

Cours le matin, sessions pratiques en ½ groupes au MET en parallèle avec des travaux dirigés l’après-midi.

Tarifs

360 €, incluant les repas du midi.

Comité d’organisation

• Edgar Rauch, Muriel Véron, SIMAP
• Philippe Boullay, CRISMAT
• Damien Jacob, UMET
• Pascal Roussel, UCCS.

Intervenants

• Philippe Boullay, CRISMAT
• Damien Jacob, UMET.
• Lukas Palatinus, Institute of Physics, Prague.
• Edgar Rauch, SIMAP
• Pascal Roussel, UCCS.
• Eirini Sarigiannidou, SIMAP
• Muriel Véron, SIMAP