La diffraction des rayons X (DRX/XRD) est une méthode non destructive de caractérisation des contraintes résiduelles dans les matériaux polycristallins. Malgré les progrès récents des logiciels et l’existence de normes, cette technique nécessite
un savoir-faire certain aussi bien pour la mise en œuvre que pour l’interprétation des mesures. Souvent, les aspects liés à la microstructure des matériaux (texture, biphasage, gradient, taille de grains…) ne peuvent pas être négligés.

L’Université de technologie de Troyes propose une formation spécifique à l’analyse des contraintes résiduelles par diffraction des rayons X, destinée aux ingénieurs de l’industrie, aux doctorants et aux chercheurs.

objectifs de la formation

• Comprendre l’origine et les conséquences des contraintes résiduelles
• Définir et choisir les paramètres et conditions de mesure (configuration de l’appareil et des acquisitions)
• Utiliser les appareils de mesure de manière optimale
  • diffractomètre des rayons X Bruker D8 Discover, avec détecteurs 0, 1 et 2 D
  • diffractomètre des rayons X GE-Seifert, avec détecteurs 0 et 1 D
  • diffractomètre des rayons X Inel EQUINOX 100 avec détecteur 1 D
• Traiter les données de différentes manières et de façon appropriée
• Intégrer les limites de la méthode, les aspects métrologiques et les erreurs de mesures dans la démarche d’analyse et de l’évaluation des résultats